MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列

產(chǎn)品型號：
更新時(shí)間：2024-11-26

簡要描述：MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列檢測技術(shù)采用方式為『非破壞性、高速脈沖電壓與阻尼振蕩波形比對』施加脈沖電壓于繞組線圈的兩端，在不破壞被測物的條件下，透過L/C諧振產(chǎn)生阻尼衰減振蕩波形，進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)品與被測物比對兩者間的瞬間波形，在產(chǎn)品壽命性質(zhì)量下提前檢出層間短路、內(nèi)部線圈或磁芯絕緣瑕疵的不良品。

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產(chǎn)品詳情

MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列

MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列產(chǎn)品簡介

同系列型號：7750-1 7750-5 7750-10

?最小電感值≥0.2μH

?電壓補(bǔ)償功能

?高速脈沖取樣率200MHz/9bits

?崩潰電壓測試

?穩(wěn)定極速測試：7次/秒

?儀器內(nèi)建可儲(chǔ)存128組測試波形

?USB Host快速存取測試畫面

?五種波形比對，檢測繞線組件層間短路不良

7750層間短路測試儀檢測技術(shù)采用方式為『非破壞性、高速脈沖電壓與阻尼振蕩波形比對』施加脈沖電壓于繞組線圈的兩端，在不破壞被測物的條件下，透過L/C諧振產(chǎn)生阻尼衰減振蕩波形，進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)品與被測物比對兩者間的瞬間波形，在產(chǎn)品壽命性質(zhì)量下提前檢出層間短路、內(nèi)部線圈或磁芯絕緣瑕疵的不良品。

MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列參數(shù)

型號	脈沖電壓	最小電感量
	可程式化
7750-1	10V-1200V	≥0.1μH
	電壓解析度 0.1V
	******0.028焦耳
7750-5	100V-5200V	≥10μH
	電壓解析度 1V
	******0.5焦耳
7750-10	200V-10000V	≥20μH
	電壓解析度 5V
	******2焦耳

脈沖電壓精準(zhǔn)度	±（1% of setting＋5V）
	7750-1
	±（1% of setting＋10V）
	7750-5
	±（1% of setting＋20V）
	7750-10
基本量測時(shí)	7次/秒
脈沖施加數(shù)	******32
波形采樣率	200MHz/9 bit
輸入阻抗	20MΩ
測試項(xiàng)目	總面積比對
	面積差比對
	二階微分比對
	電暈數(shù)比對
支援崩潰電壓測試	支援此功能
Remote 信號	Remote輸出信號
	PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON

	Remote輸入信號
	START/STOP
內(nèi)建儲(chǔ)存	128組
界面	USB Host/Device、RS-232、Remote
	GPIB、LAN選配
電源需求	電壓98Vac-132Vac或192Vac-264Vac
	頻率50/60Hz±5%
液晶屏幕	7吋TFT,彩色顯示(800*480)
操作環(huán)境	溫度：0℃-40℃、濕度：20-80%RH
外觀尺寸(WHD)	430x132x370 mm
重量	7Kg

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